Report on the CERN 11/10 ~ 11/ /12/3, Local Lab meeting

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1 Report on the CERN 11/10 ~ 11/28 2007/12/3, Local Lab meeting
Yu Maruyama

2 Outline 滞在の目的 滞在の概要 広島で起きた問題について テストベンチの動作確認 まとめ 3/12/2007
Local lab meeting

3 滞在の目的 広島で起きたテストベンチの問題点の修復。 テストベンチが正常に動作する状態で広島に持って帰る。 3/12/2007
Local lab meeting

4 Local Meeting/Kenta Mizoguchi
Test Bench Overview APD:Avalanche Photo Diode CSP:Charge Sensitive Preamplifier IPCB:Inter Printed Circuit Board FEE:Front end electronics Altro:Alice TPC Readout RCU:Readout Control Unit DCS:Detector Control System SIU:Source InterfaceUnit DDL:Detector Data Link D-RORC:DAQ ReadOut Receiver Card 3/12/2007 Local lab meeting 2007/5/17 Local Meeting/Kenta Mizoguchi 4

5 ALICE Local Meeting / Kenta Mizoguchi
滞在の概要 テストベンチに問題が起きた原因の箇所を特定し、修復を行った。 修復した上で、 APDにかかるHVをFEE card上でチェックし、その後、FEE cardにシグナルを入れて、テストベンチの動作確認を行った。 3/12/2007 Local lab meeting 2007/11/15 ALICE Local Meeting / Kenta Mizoguchi 5

6 ALICE Local Meeting / Kenta Mizoguchi
広島で起きた問題とは？ （Data takingをするときに設定したsample数と）raw dataファイル内に書かれているsample数の情報と、実際にファイル内にあるsample数が一致していなかった。 測定されたADCの値の中で、４個に一個の割合で非常に大きい値を持ったものがあった。 3/12/2007 Local lab meeting 2007/11/15 ALICE Local Meeting / Kenta Mizoguchi 6

7 Data Structure (PHOS only)
run100.raw RUN Header Event 1 Event 2 Event 3 … Event 1 Event Header ALTRO ch1 ALTRO ch2 ALTRO ch3 ALTRO ch4 … ALTRO ch1 10bit ADC sample 1 10bit ADC sample 2 10bit ADC sample N … Trailer 20bit Other Trailer N’ 3/12/2007 Local lab meeting

8 Test-Bench at Hiroshima
ALTRO ch1 10bit ADC sample 1 10bit ADC sample 2 10bit ADC sample N … Trailer 20bit Other Trailer N’ 正しいフォーマット： N = N’ 問題点： N != N’ 3/12/2007 Local lab meeting

9 Data format 設定したSample数 Recorded sample数（N） Word count（N’+2） Nword TS
Trailer情報 Other Trailer情報 設定したSample数 Recorded sample数（N） Word count（N’+2） Nword TS 115 36 39 102 114 85 6 9 8 84 147 68 71 70 146 117 3/12/2007 Local lab meeting

10 広島で起きた問題について 行った方法 　- 広島のTest-bench（問題あり）の各パーツとCERNにあるTest-bench（正常に動く）の各パーツを交換していき、問題のある箇所を特定した。 テストベンチの各パーツ 　- FEE card, GTL bus, RCU, DDL, D-RORC, Hard disk(CERN DAQ), FEEとRCUの電源ケーブル 3/12/2007 Local lab meeting

11 広島で起きた問題の再現 CERNのテストベンチの全ての部品を広島から持ってきたものと交換しても、問題を再現できなかった。
ある時点（テストベンチは全て広島の部品）でデータを取ると広島で起きたのと同じ問題が起こった！ 　- このとき問題が起きなかった時と同じセットアップを組んでいる。広島のテストベンチの中で前とは違う何かが変わったはず・・・。 3/12/2007 Local lab meeting

12 広島で起きた問題の再現 ここで、広島とCERNのテストベンチのどの部品を使ったときに問題が起こったか、起こらなかったかのテーブルを作った。
そうすると、GTL busだけが問題が起こったときと相関を持つことが分かった。 3/12/2007 Local lab meeting

13 広島で起きた問題の再現 テーブル ・・・ 日時/場所 FEE FEE LV GTL RCU RCU LV DATE Sample
Script N=N’ 16, CERN Hiro CERN 115 ○ × 3/12/2007 Local lab meeting

14 問題が起こった箇所の発見 よって、GTL busを詳しく調べた。 - テスターで導通をチェック。 →１箇所の断線箇所を発見！！
　 - テスターで導通をチェック。 　　→１箇所の断線箇所を発見！！ GTL　bus Data busに 断線箇所を発見 3/12/2007 Local lab meeting

15 問題が起こった箇所の発見 断線箇所にバイパスを作って、データを取ってみると、問題は起こらなくなった。 断線箇所 断線箇所に バイパスを作った
断線箇所に　　　　バイパスを作った 3/12/2007 Local lab meeting

16 問題が起こった箇所の発見 GTL busを軽く折り曲げると、断線箇所の抵抗値が大きくなった。
以上より、CERNに来て最初の方はGTL busは断線していなかったが、ある時点で断線したと思われる。GTL busの導通は不安定であり、広島でも同様の原因で問題が起こったと思われる。 3/12/2007 Local lab meeting

17 GTL busの修理 GTL busの代えがなかったので、GTL busの断線部分にはんだを流し込んでGTL busの修復をした。
3/12/2007 Local lab meeting

18 ALICE Local Meeting / Kenta Mizoguchi
滞在の概要 テストベンチに問題が起きた原因の箇所を特定し、修復を行った。 修復した上で、 APDにかかるHVをFEE card上でチェックし、その後、FEE cardにシグナルを入れて、テストベンチの動作確認を行った。 OK! 3/12/2007 Local lab meeting 2007/11/15 ALICE Local Meeting / Kenta Mizoguchi 18

19 残っていること FEEの動作確認 シグナルを入れてRaw formatでのデータを確認する。
シグナルを入れてRoot formatでのデータを確認する。 APDにかかるHVのチェック。 CSP出力シグナルを入れてデータを確認する。 →続きは来週 3/12/2007 Local lab meeting

20 3/12/2007 Local lab meeting

21 BACK UP 3/12/2007 Local lab meeting

22 GTL bus 断線箇所 3/12/2007 Local lab meeting