Belle II SVDに向けた SOI pixel検出器の検討 東北大学 小野 善将、小貫良行、山本均 高エネ研 新井康夫、坪山透 その他SOIPIXグループ 2011/9/18 日本物理学会 @弘前大学 18aSE_5
SOI検出器 SOI検出器:SOI基板のSubstrate層をセンサーとして使用 BOX(SiO2) Sensor 特徴 SOI Circuit BOX(SiO2) SOI(Silicon On Insulator言う) 特徴 ○モノリシック型検出器 ○SOI CMOSによる読み出し回路 ・寄生容量の大幅減 ・物質量減 ・ラッチアップ耐性 ・・・・etc 半導体検出器の理想形!! 2011/9/18 日本物理学会 @弘前大学 18aSE_5
SOI検出器は崩壊点検出器に相性がいい。 高エネルギー実験への応用 崩壊点検出器への応用 7GeV e- 4GeV e+ 高速動作:低寄生容量。 位置分解能:モノリシック、PIXOR構造。 物質量:モノリシック、センサー周り寄生容量。 放射線耐性:TID効果に弱いが対策可能。 SOI検出器は崩壊点検出器に相性がいい。 Belle II detector 要求項目 当面の目標 SOIとの相性 高速な動作 40MHz以上 ○ 高い位置分解能 ~ 10um 物質量少ない Si:100um以下 放射線耐性 10Mrad以上 △(○) 2011/9/18 日本物理学会 @弘前大学 18aSE_5
Belle II SVD最内層に向けた開発 e- e+ 目標:Belle II SVD最内層(Layer#3)に向けて開発。 占有率、ゴースト発生率、物質量などの低下を狙う。 SOI PIXOR (SOI Pixel OR) PIXOR pitch : φ25um、z40um sampling rate : 42.33MHz 占有率 : < 0.1 (%) Pixel OR数 : 16 OR センサー厚 : 100um trigger latency : 5us 7GeV 4GeV e- SOI PIXOR Layer#3 e+ 固有位置分解能: PIXOR→φ7um、z11um、 DSSD→φum,zum(ノイズに依存) Layer#3→半径40mmに配置 DSSD (Double-sided Silicon Strip Detector) DSSD pitch : φ50um、z160um sampling rate : 31.8MHz 占有率 : 6.7 (%) センサー厚 : 300um 現行案 Layer#3 2011/9/18 日本物理学会 @弘前大学 18aSE_5
SOI PIXORの開発 高エネルギー実験向けのSOI検出器の開発 PIXOR : PIXel OR ①PIXOR構造: pixelとstripの中間構造 ②バイナリ読み出し形式: Hitの有無を判定→デジタル値で出力 ③カウンタを使ったトリガー判定方式 Hitの時間をカウンタで記憶→トリガー判定 PIXOR構造:新しいセンサー構造、pixelとstripの中間構造 バイナリ読み出し形式:電離電荷のアナログ量ではなく、Vthに対するHit判定で1,0を返す。 カウンタ:トリガーが来るまでカウンタでHit情報を格納する。 後でもう一度まとめるが簡単に説明。 PIXOR構造 バイナリ化 カウンタで待つ 2011/9/18 日本物理学会 @弘前大学 18aSE_5
①PIXOR構造:PixelとStripの特徴 端子 Pixel 端子 有感面積 1 pixel = 1つの処理回路 1 strip = 有感面積大きい ○占有率が低い。 ○センサー寄生容量小さい。 ○ゴーストなし。 ×回路の大きさで位置分解能に制限。 ×占有率が高い。 ×センサー寄生容量大きい。 ×ゴースト発生多い。 ○位置分解能がいい。 2011/9/18 日本物理学会 @弘前大学 18aSE_5
小さなDSSDを一面で再現して並べたような構造。 ①PIXOR構造:PIXORと全体像 センサー端子→2方向(x,y)に分けてORをとる。 1つのSuper Pixel 2cm角まで可能 Pixel端子 ラダー表記、全体表記、1chip → 2cm角程度 図では読み出し回路はセンサー外へ出ているが、実際はセンサーの上に配置される。 1つのRO chip 1ラダーでの配置案(Belle II SVD Layer#3) Sensor PIXOR構造(4 OR) n*n pixel → 2*nの処理回路 小さなDSSDを一面で再現して並べたような構造。 2011/9/18 日本物理学会 @弘前大学 18aSE_5
①PIXOR構造:利点 Pixelに対する利点 ○位置分解能の制限がなくなる。 (回路面積:n2→2n) Stripに対する利点 ○ゴースト発生、占有率の低下。 例えば、位置分解能高く占有率低くしたい。 →Pixelっぽく作りたい。 →要求の位置分解能のPixelを設定。 →処理回路設定→回路面積→最低のOR数決定。 設計時にPixel ORの数を変えることで、 要求に応じた性能を柔軟に選ぶことができる。 位置分解能、回路面積、占有率、ゴースト発生率、 データ量、S/N、センサー厚… 2011/9/18 日本物理学会 @弘前大学 18aSE_5
③カウンタを使ったトリガー判定方式 Hit時刻からカウントダウン→0になった時間にトリガーの有無を判定 トリガーはtrigger latency時間遅れる、Hit情報格納する必要。 → カウンタを使ってトリガーを待つ。 Hit → CNT開始 カウンタ値0 トリガー信号と一致 → Hit情報送信 タイミングチャート ※トリガー信号は (イベント時間)+(trigger latency)後に送信 図を変えよう、LOADもしておこう。 カウンタ初期値LOAD 2011/9/18 日本物理学会 @弘前大学 18aSE_5
試作:PIXOR1 シンプルな構造をもった試作チップPIXOR1を作成する。 10月にサブミット予定。 Hit判定を選別(バイナリ化) CLKに同期 カウンタの制御 Sensor 各機能のコメント ・discriminator:閾値1段でバイナリ形式のHit情報に変換する ・synchronizer:デジタル回路の入射部→CLKに同期させる+1CLK分のHitに変換 ・SEQ:カウンタの使用状況を把握して、Hit情報をカウンタに送る ・htc~:実際にカウンタを使って、トリガーが来るまでHit情報をCHに格納しておく。 ・trigger compare:トリガー信号とカウンタの時間経過を比較する。0の場合にトリガーでhit情報 10月にサブミット予定。 デジタル回路 アナログ回路 カウンタ(1個) トリガー信号と比較、判定 2011/9/18 日本物理学会 @弘前大学 18aSE_5
まとめと予定 SOI検出器は半導体検出器の理想形。 高エネルギー実験向けのSOI検出器:PIXORの開発を始めた。 PIXORは、「PIXOR構造」「バイナリ読み出し」「カウンタによるトリガー判定」の機能を持つ検出器。 シンプルな構造:PIXOR1を10月にサブミット予定。 今後、機能を追加してBelle II SVD最内層へ最適化を行う。 2011/9/18 日本物理学会 @弘前大学 18aSE_5
バックアップ PIXOR方式:2方向に分ける方法 (シミュレーションから) Belle II SVDのジオメトリパラメータ 予想される占有率、最小データ量 ②バイナリ読み出しと利点 trigger latency時間分待つ方法 放射線耐性、センサークロストークへの対策 バックアップ 2011/9/18 日本物理学会 @弘前大学 18aSE_5
PIXOR方式:2方向に分ける方法 (1/2) 1 pixel からの2方向に同じ信号波形を出力すること。 2方向の線を互いに絶縁すること。 ピクセル端子からの信号を2方向に分けなくてはいけない。 要求事項 1 pixel からの2方向に同じ信号波形を出力すること。 2方向の線を互いに絶縁すること。 2方向への分け方↓ (a) 1Pixelに2端子 (b) ダイオード分離 (c) ダイオード埋込 2011/9/18 日本物理学会 @弘前大学 18aSE_5
全ての構造を試作して動作チェックの予定。 PIXOR方式:2方向に分ける方法 (2/2) シミュレーションソフトからの結果 (a) 1Pixelに2端子 (b) ダイオード分離 (c) ダイオード埋込 電離電荷は近い方のpixel端子にほぼ回収。 (TCAD) ダイオード間の容量性クロストーク大きめ。 (SPICE) 電荷回収時にアバランシェ?が起きる。 (TCAD) 全ての構造を試作して動作チェックの予定。 2011/9/18 日本物理学会 @弘前大学 18aSE_5
Belle II SVDのジオメトリパラメータ ビーム軸からの半径 : r=38mm ラダー数 : 8 * 2 = 16枚 1ラダーの有感層 : 122.88mm*38.4mm 2011/9/18 日本物理学会 @弘前大学 18aSE_5
予想される占有率、最小データ量 OR数を変えた場合のSVD最内層の占有率の変化とデータ量 ※trigger rate : 30kHz。 ※データ量はHitしたアドレス長分。 ※計算値はDSSDでの占有率からの比で計算。 ※暫定的な値です。 2011/9/18 日本物理学会 @弘前大学 18aSE_5
②バイナリ読み出しと利点 discriminatorでHit判定→Hitしたか否かの判定を出力 利点(アナログ読み出しと比較して…) Pre-amp後 Shaper後 Discriminator後 図を変えよう。 占有率が低いと予想されるため、pre-amp後の波形はこの程度でOKか? 高速すぎるアンプは電力食べる→トレードオフ 利点(アナログ読み出しと比較して…) ○デジタル値にすることで出力情報量が少なくなる。 ○アナログ回路系の複雑な処理が不要。 ○位置分解能の低下は、PIXOR方式で調整可能。 2011/9/18 日本物理学会 @弘前大学 18aSE_5
trigger latency時間分待つ方法 Trigger時刻でイベントを選択→trigger latency分Hit情報をためておく必要がある。 ①latency時間分のメモリ ②Hitした時間を記憶 ①latency時間分のメモリ ②Hitした時間を記憶 Hitした time stamp … 1CLK シフト ○とりこぼしがない ×回路面積大きい ×とりこぼしの可能性 ○回路面積小さい 2011/9/18 日本物理学会 @弘前大学 18aSE_5
trigger latency時間分待つ方法 Trigger時刻でイベントを選択→trigger latency分Hit情報をためておく必要がある。 ①latency時間分のメモリ ②Hitした時間を記憶 ②、カウンタを使う方式を採用 占有率:< 0.1% trigger latency : 5us (212CLK) → 1 trigger latencyあたり:0.2Hit → ②の方が格納する情報が少ない。 ①latency時間分のメモリ ②Hitした時間を記憶 Hitした time stamp … 1CLK シフト ○とりこぼしがない ×回路面積大きい ×とりこぼしの可能性 ○回路面積小さい 2011/9/18 日本物理学会 @弘前大学 18aSE_5
放射線耐性、クロストークへの対策 Double SOI構造 Middle siliconに電圧を加えることで、 放射線耐性→TID効果の補償 クロストーク→センサー・Tr間のACカップリングの遮蔽 NMOS 補償電圧 Middle Silicon 蓄積したホールをMiddle siliconの電圧で相殺させる。 センサー・Tr間の容量性カップリングを遮断。 2011/9/18 日本物理学会 @弘前大学 18aSE_5