システムとソフトウェア評価： 標準化の目的と必要性 評価の目的 開発した成果物が要求を満足しているかを確認する （開発者） 候補製品を比較選定する（取得者） 第三者が利用者の立場で客観評価を行う（独立評価者） 標準化の必要性 品質要求に対する合意基盤の確立 → 要求を出す側と受ける側の共通理解の促進 評価の客観性、反復性、定量性の確保 → 結果の信頼性、信ぴょう性の保証 受け入れ、選定の拠り所となる評価方法、基準の設定 → 評価結果の解釈の一貫性の保証
品質要求の定量化の考え方 品質要求は，定量化しないと，あいまい（検証不可能） 対象ソフトウェアの品質要求を，測定量を使って定量的に定義 測定量は，測定法により計算する． 品質要求は，測定量の目標値と尺度 （許容範囲）により表現する． 成熟性要求： 潜在欠陥数を抑制する 測定量： 残存欠陥密度 測定法： 成長曲線による推定等 （→次ぺージ） 目標： 0.01件/kL 尺度： 許容範囲=0.008～0.02kL 測定対象 ソフトウェア (Target Entity) 品質特性／ 副特性 測定量 (Measure) 潜在する欠陥数 属性 (Property) 例) 信頼性／成熟性 潜在欠陥数を抑える 例) 残存欠陥密度 情報ニーズ 定量化 測定法 (Measurement Method) 目標値 （Target Value) 尺度 (Scale) 例) 成長曲線を使い，総欠陥数を推定し，累積欠陥数を引いて，残存欠陥数を推定、コード規模で割る 例) 0.01件/kL 例) 許容範囲＝ 0.008～0.02件/kL 評価基準
測定量の仕組み 測定法 品質測定量 算式 属性 属性 属性 残存欠陥密度 [件/kL] 品質測定要素 品質測定要素 品質測定要素 測定方法 情報ニーズ 潜在する欠陥数（密度） 品質測定量 残存欠陥密度 [件/kL] 測定法 算式 品質測定要素 品質測定要素 品質測定要素 測定方法 測定方法 測定方法 テスト消化数 属性 属性 検出欠陥数 属性 規模 測定対象 ソフトウェア 測定対象 測定対象 測定対象 テスト（テスト仕様書） 実行プログラム ソースコード
ソースコードの行数をコメント抜きでカウント 測定量の仕組み 測定対象の属性を「測定方法」により測定する→品質測定要素 品質測定要素から、「算式」を使って、品質測定量を計算する 品質測定量 残存欠陥密度 [件/kL] ①成長曲線により欠陥総数を推定 ②残存欠陥数＝欠陥総数－累積検出欠陥数 ③残存欠陥密度＝残存欠陥数／コード行数 算式 テスト消化数 ＋日付 検出欠陥数 ＋日付 品質測定要素 品質測定要素 品質測定要素 コード行数 テスト実施日 単位に実施したテストケース数をカウント テスト実施日 単位に検出欠陥数をカウント ソースコードの行数をコメント抜きでカウント 測定方法 測定方法 測定方法 テスト消化数 属性 属性 検出欠陥数 属性 規模 測定対象 測定対象 測定対象 テスト（テスト仕様書） 実行プログラム ソースコード
測定尺度と評価 測定値は、設定された水準を用いて、満足／不満足を評定する 評定結果に基づき、品質特性別評価、品質総合評価と進む 残存欠陥密度 測定値評定 (rating) 要求を超過（過剰品質） 0.008 品質特性別 評価（重み付け） 満足 測定値 目標範囲内 0.020 最小限で受入可 0.025 品質総合評価 (assess-ment) 成熟性評価 受入不可 不満足 80点 測定尺度 設定水準 合格 MTBF (mean time between failures) 不満足 機能正確性評価 95点
品質要求例） 対象システム： XX システム 品質要求： 潜在欠陥数を抑制する（成熟性） 測定量： 残存欠陥密度 測定法 測定量： 残存欠陥密度 測定法 品質測定要素と測定方法（基礎データ） 1) テスト消化数＋日付 テスト実施日単位に実施したテストケース 数をカウント 2) 検出欠陥数＋日付 テスト実施日単位に検出欠陥数をカウント 3) コード行数 ソースコードの行数をコメント抜きでカウント 算法（基礎データからの計算方法） ①成長曲線により欠陥総数を推定 ②残存欠陥数＝欠陥総数－累積検出欠陥数 ③残存欠陥密度＝残存欠陥数／コード行数 目標： 0.01件/kL 尺度： 許容範囲=0.008～0.02kL