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「すざく」搭載X線CCDカメラXISの 放射線バックグラウンドの解析 ーバックグラウンドの起源の解明を目指して−
加藤菜々子、穴田貴康、尾崎正伸、 村上弘志、堂谷忠靖 (宇宙航空研究開発機構 宇宙科学研究本部) 1. 本研究の動機 2. 解析方法 3. データの処理方法 4. 結果 5. 考察 6. まとめ
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本研究の動機 XISのバックグラウンドデータを解析し、 検出器中でのバックグラウンド放射線の振る舞いを考察する
衛星軌道上で観測されるバックグラウンド ・ 宇宙X線背景放射(Cosmic X-ray Background: CXB) ・ 検出器固有のバックグラウンド (Non X-ray Background: NXB) X線CCD検出器XISのバックグラウンド: 地球磁場によって低く抑えられている 「すざく」は低軌道 でに打ち上げられている欧米のX線天文衛星XMM-NewtonやChandraがともに遠地点が約10万kmという楕円軌道をとっているのに対し、日本の「すざく」は高度約570kmの円軌道をとっている。。 The XIS background rate (see 、6.7) at this energy is only 0.05 cts/s/keV in both the FI and BI detectors, When observing the dark earth (i.e. the NXB), the background rate between 1-12 keV in is 0.11 cts/s in the FI CCDs and 0.40 cts/s in the BI CCD; see Figure 6.6. The background rate on the FI chips (including all the grades) is normally less than 400 counts/frame (50 cts/s) when no class discriminator is applied. On the BI chip, the rate is nor- mally less than 150 counts/frame (18.75 cts/s). この特長を活かすため、検出器バックグラウンドの起源を解明し、 さらに低減することが重要 XISのバックグラウンドデータを解析し、 検出器中でのバックグラウンド放射線の振る舞いを考察する 天文学会 2007年秋季年会 W52a
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X線CCD検出器バックグラウンドの特徴 フレームイメージ イベント抽出後 X線と判定されてしまうイベントが 含まれている可能性がある
右:イベント抽出後のイメージ イベントが密集している X線と判定されてしまうイベントが 含まれている可能性がある 天文学会 2007年秋季年会 W52a
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解析方法 1 イベントの空間分布 1フレームでのイベント間の距離の頻度分布 陽子が生じるトラックのふちには、
X線と判定されてしまうイベントが 含まれている可能性がある フレームイメージ のxis2 3つのエネルギー範囲 Low: keV Middle: keV High: keV に対して 陽子が生成する密集したトラックに付随して X線と認識されるイベントが生じているか否か 天文学会 2007年秋季年会 W52a
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解析方法 2 電子雲の広がり Grade0のイベント数に対する、他のGradeのイベント数の比(Grade分岐比)
解析方法 2 電子雲の広がり Grade0のイベント数に対する、他のGradeのイベント数の比(Grade分岐比) Grade判定法:電子雲の広がりによってイベントを分類 ・ 電子雲の広がりが小さいイベント X線と見なされるイベント =「X線グレード」 Grade0 Grade2 Grade3 Grade4 Grade6 ・ 電子雲の広がりが大きいイベント X線以外によるイベント =「非X線グレード」 Grade1 Grade5 Grade7 バックグラウンドとなっている放射線と そのエネルギー依存性を評価する X線のみのデータから作成した グレード分岐比と比較 天文学会 2007年秋季年会 W52a
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データの処理方法 XISの視野が夜側の地球を向いている時間帯(夜地球)のデータ 検出器バックグラウンドのデータとして利用可能 データ抽出条件
・ 2005年9月から2005年10月 ・ 夜地球 ・ 全Grade (0-7) ・ ノーマルモード ・ 地磁気異常帯(South Atlantic Anomaly: SAA)の除去 ・ 較正源, hot pixel, flickering pixel, bad column等の除去 ・ 光漏れの更新異常フレームの除去 ・上記で除去できなかった異常イベントを含むフレームの除去 CXBをほとんど含まない かつ 地球大気による太陽光の散乱が少ない 夜地球(ELV<-10 && DYE_ELV>100) SAA:荷電粒子が激増する STATUS COLUMN [0:65535] 光漏れ更新異常 peakdiff;100, constinterval;10 最終的な有効フレーム数 Xis0: =183ksec Xis1: =88.6ksec Xis2: =233ksec Xis3: =183ksec XIS0,2,3 (FI) XIS1 (BI) ACTX ACTY 天文学会 2007年秋季年会 W52a
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結果 1. イベントの空間分布 密集 一様に分布 フレームイメージ 頻度/距離 距離
結果 1. イベントの空間分布 Sensor: XIS0, Energy range: keV 遠い→ ←近い 非X線グレード X線グレード ←多い 少ない→ ←多い フレームイメージ 頻度/距離 密集 一様に分布 距離 少ない→ 二体相関関数 一様に分布しているとしたらフラットになるはず あるイベントを中心に、同距離つまり円上に存在するイベント数の密度分布 一様に分布しているとするとフラットに、密集していると近距離での頻度が高くなる 荷電粒子が生じるトラックはほとんどGrade7→ Grade7を基準として解析 ←近い 距離 遠い→ ・ 非X線グレード(Grade5,7) 同士は、密集しやすい ・ X線グレード(Grade0234,6)と、非X線グレード(Grade7)の 位置の相関はない 天文学会 2007年秋季年会 W52a
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結果 1. イベントの空間分布 異なるエネルギー範囲で比較 Energy range: 2.5-6.0keV
結果 1. イベントの空間分布 異なるエネルギー範囲で比較 Energy range: keV X線グレード 非X線グレード Energy range: keV X線グレード 非X線グレード Si K殻吸収端 1.84keV O K殻吸収端 0.543keV どちらのエネルギー範囲においても、 ・非X線グレード(Grade5,7) 同士は、密集しやすい ・X線グレード(Grade0234,6)と、非X線グレード(Grade7)の位置の相関はない 天文学会 2007年秋季年会 W52a
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結果 1. イベントの空間分布 FI(XIS0) BI(XIS1) 2.5-6.0keV 7.0-10keV 2.5-6.0keV
結果 1. イベントの空間分布 FI(XIS0) keV 7.0-10keV BI(XIS1) keV 7.0-10keV keVでは、カウントレートが低く、評価するにはデータが足りなかった FI:荷電粒子が中性領域にまで突入し、熱拡散などで広がった電子雲を生じる + 光漏れ更新異常フレーム数がBIより少なく、トータル実効フレーム数が多い →カウント数が多い BI:完全空乏化しているため、電荷の拡散が少なく、荷電粒子の生じるトラックでも小さい + 光漏れ更新異常フレーム数が多い →カウント数が少ない ・非X線グレード(Grade5,7) 同士は、密集しやすい ・X線グレード(Grade0234,6)と、非X線グレード(Grade7)の位置の相関はない 天文学会 2007年秋季年会 W52a
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考察 X線グレードは、陽子の生成するトラックに 付随して生じていない 今回解析したXISの実データは、シミュレーションの結果を支持する
・非X線グレード(Grade5,7) 同士は、密集しやすい ・X線グレード(Grade0234,6)と、非X線グレード(Grade7)の位置の相関はない X線グレードは、陽子の生成するトラックに 付随して生じていない シミュレーションによると CCD検出器のハウジングで生じるX線や電子がX線グレードとなり、 バックグラウンドに寄与していると予想されている (穴田 日本天文学会2006年春季年会W65a) ハウジングで生じる二次粒子によるX線グレードのイベントであれば 空間分布に相関は見られないはず 今回解析したXISの実データは、シミュレーションの結果を支持する 天文学会 2007年秋季年会 W52a
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結果 2. 電子雲の広がり X線のみのデータから成るグレード分岐比と若干異なる X線の光電吸収以外のプロセスが
結果 2. 電子雲の広がり Sensor: XIS0, Energy range: keV Sgr A Eastのデータ フレーム数で規格化し、 非X線バックグラウンドを 差し引いてある X線のみのデータとして扱える BGD SgrA 1 1.1% 0.48% 29% % 11% % 4 12% % % % 6 19% % % 150% X線グレード X線のみのデータから成るグレード分岐比と若干異なる X線の光電吸収以外のプロセスが バックグラウンドに寄与していると考えられる 天文学会 2007年秋季年会 W52a
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結果 2. 電子雲の広がり FI (XIS0) どのエネルギー範囲でも同じように X線のみのデータから成るグレード分岐比と若干異なる
結果 2. 電子雲の広がり FI (XIS0) keV 7.0-10keV keV どのエネルギー範囲でも同じように X線のみのデータから成るグレード分岐比と若干異なる X線の光電吸収以外のプロセスも バックグラウンドに寄与している 天文学会 2007年秋季年会 W52a
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結果 2. 電子雲の広がり BI (XIS1) 0.6-1.3keVで、X線データとほぼ等しい 非常に小さな電子雲しか生じないプロセスが
結果 2. 電子雲の広がり BI (XIS1) keV 7.0-10keV keV keVで、X線データとほぼ等しい 候補として低エネルギー電子 FI:電極でとまる BI:到達し、小さな電子雲発生 非常に小さな電子雲しか生じないプロセスが バックグラウンドとなっている可能性が高い 高エネルギー程、Grade5,6,7が大きくなっている X線の光電吸収以外のプロセスの寄与が大きくなる 天文学会 2007年秋季年会 W52a
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まとめ 「すざく」搭載X線CCD検出器XISの夜地球のデータを解析した 1. イベントの空間分布
X線グレード(Grade0,2,3,4,6)は、陽子が生成する密集した トラックに付随して生じていない 2. 電子雲の広がり FI: X線の光電吸収以外のプロセスもバックグラウンドに 寄与している BI:低エネルギーでは、非常に小さな電子雲しか生じない プロセスがバックグラウンドなっている可能性が高い 高エネルギーほど、 X線の光電吸収以外のプロセスの 寄与が大きくなる 6個後 W58a 「Geant4による、X線CCDの放射線バックグラウンド感受性に対する素子形状の影響の推定」 シミュの結果 FI: X線6割、電子3割 BI: 電子8割、X線1割 天文学会 2007年秋季年会 W52a
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