Presentation is loading. Please wait.

Presentation is loading. Please wait.

(株)ナノオプトニクス・エナジー 高橋啓介 2011/01/08 於: 国立天文台岡山天体物理観測所会議室

Similar presentations


Presentation on theme: "(株)ナノオプトニクス・エナジー 高橋啓介 2011/01/08 於: 国立天文台岡山天体物理観測所会議室"— Presentation transcript:

1 (株)ナノオプトニクス・エナジー 高橋啓介 2011/01/08 於: 国立天文台岡山天体物理観測所会議室
研磨関連報告  (株)ナノオプトニクス・エナジー 高橋啓介 2011/01/08 於: 国立天文台岡山天体物理観測所会議室

2 もくじ ・曲率基準鏡の研磨について ・「やとい」つき研磨の流れ ・予定

3 曲率基準鏡 ・セグメントとCGH干渉計のみではワークのRについての 情報が得られない(① or ②) CGHユニット レーザー
・曲率基準鏡(研削機に固定)をCGHで測定  →フラットに見える高さにCGHユニットを移動 ・セグメントとCGH干渉計のみではワークのRについての 情報が得られない(① or  ②) ・ワークの厚みなどに違いのある複数のセグメントの  Rをそろえる必要 ・セグメントと曲率基準鏡の高低差を レーザー変位計で測定 →高低差分だけさらにCGHユニットを移動

4 曲率基準鏡研磨 1:面粗さを取るための研磨 (R付きΦ60パッド使用) 2:CGH 撮像、形状取得 3:形状補正 (RなしΦ30パッド使用)
  (R付きΦ60パッド使用) 2:CGH 撮像、形状取得 3:形状補正   (RなしΦ30パッド使用) 研磨前最終形状 目標形状 →40mm幅でP-V:600nm

5 研磨過程 9/21~9/30 共通パラメータ 回転数:160 rpm 錘質量:7kg ①:研磨1後 (Φ60, 156min.)
Φ30パッド(フラット)のPSF測定 ④:研磨4後 ( Φ30, 114min.) 最終形状

6 基準高さの測定精度 ・CGHユニットの高さを40umステップで変化させて曲率基準鏡を測定 ・前後の形状差をプロット
・40umの違い(20nm程度の形状差)を識別可能

7 やとい付き研磨 これまでの問題点 エッジ付近の形状 滞在時間の調整のみでは補正できない→うまく研磨する方法は?
やとい付き研磨 これまでの問題点 エッジ付近の形状 エッジ付近→軸の中心までしかパッドが行けない パッド半径程度の領域が盛り上がって残ってしまう 滞在時間の調整のみでは補正できない→うまく研磨する方法は?

8 研磨に要する時間を大幅に削減できる可能性
やとい付き研磨 効能 エッジ付近の研磨が難しい理由→パッドが落ちてしまうから パッドが落ちないようにする! やとい セグメント 研磨に要する時間を大幅に削減できる可能性

9 やといつき研磨の流れ やとい:R大側円弧×2、側面×2、R小側円弧×1 1:やといのみで研削(上下辺、左右辺のセット)
2:セグメントの周囲に設置  →レベリングブロックで高さ調整(段差5um以内目標)  →ナガセインテグレックス製剣山治具で高さ固定 3:CGHで形状を確認しながら研磨

10 今後の予定 ・来週、横やとい加工終了 ・上下辺やといの研削開始 ~1月末 ・冶具調整 ・3月以降、やとい付き研磨開始


Download ppt "(株)ナノオプトニクス・エナジー 高橋啓介 2011/01/08 於: 国立天文台岡山天体物理観測所会議室"

Similar presentations


Ads by Google