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光電子分光 物質中の電子の束縛エネルギー（IP）を測定する方法 IP=hn – K.E. 物質の性質～(外殻）電子の性質
電子の受けるクーロンポテンシャル 物質の性質～(外殻）電子の性質 電子のエネルギー：電子の特徴をあらわす基本量
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エネルギーの単位について 光電子分光の分野では電子ボルト(eV)が使用される 1eV = 0.16022 aJ (1aJ=10-18J)
1個の電子が１Ｖの電位差で 受け取る運動エネルギー ＭＫＳＡ単位系 マクロな量の記述に利用 ミクロな量には不向き
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実験手法（ＵＰＳ，静電半球型） ＵＰＳ(ultraviolet photoelectron spectroscopy ）
光源：Ｈｅランプ（Ｈｅ(Ｉ): 21.2eV: 58.4 nm） －放電管ー 静電半球型電子エネルギー分析装置
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半球型アナライザーにかける電圧(1) V=E×(R2/R1-R1/R2) R2=88 mm R1=72mm : V(V)=0.4E(eV)
Pass Energy (E) : 固定 エネルギーがＥ(eV)の電子のみ透過する Vref を掃引することにより電子エネルギースペクトルを測定 V=E×(R2/R1-R1/R2) R2=88 mm R1=72mm : V(V)=0.4E(eV)
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半球型アナライザーにかける電圧(2) PC V(V)=0.4E(eV) V=2V Pass Energy = 5eV
V内球=Vref+1 (V) V外球=Vref-1(V) Vref+1: 内球 Vref-1: 外球 Vref: 加速(減速）電圧 PC Vcont Vref = Vcont (V)
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束縛エネルギーの求め方 Pass Energy (5eV) = K.E. + Vref IP = hn （21.2eV) – K.E.
原子： 飛び飛びのエネルギー構造のスペクトル 分子： バンド構造（たくさんのスペクトル線の重ね合わせ） 固体： 連続的なバンド構造
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他の測定手法 静電型：平行平板型、円筒型 飛行時間型 磁気ボトル型 光電子イメージング ・・・・
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光源について UPS(Ultra-violet Photoelectron Spectroscopy)
Ｈｅランプ(He(I), He(II)) （放射光、レーザー高調波、ＦＥＬ） ＸＰＳ(X-ray Photoelectron Spectroscopy) Ｘ線管（特性Ｘ線）,レーザープラズマ、放射光、ＦＥＬ レーザー多光子イオン化光電子分光 紫外・可視・近赤外レーザー
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