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XIS低エネルギー側QE PCのQE、XIS-EUのQEの測定

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Presentation on theme: "XIS低エネルギー側QE PCのQE、XIS-EUのQEの測定"— Presentation transcript:

1 XIS低エネルギー側QE PCのQE、XIS-EUのQEの測定
林田 清、勝田哲、鳥居研一、並木雅章、白庄司貴之、他 大阪大学XISチーム

2 ガス比例計数管(PC):斜入射較正実験 X-rays X-rays

3 異なる入射角における比例計数管のスペクトル
30° 45° Counts PH (ch) 白庄司M論 Hayashida et al., 2004 SPIE

4 2004年1月実験の再解析 比例計数管の窓のメッシュ 30°/0°と45°/0°を 同時フィット X線発生装置の長期変 動を補正
50mm厚、0.5mmピッチ 開口率0.763 (X線で実測) 断面○ではなく□を仮定 30°/0°と45°/0°を              同時フィット X線発生装置の長期変                 動を補正

5 比例計数管の検出カウントの比 30°/0° 45°/0° 今回の結果 窓透過率測定2000年 ポリプロ膜厚 0.896±0.016mm
0.196±0.012mm 0.17±0.02mm P10ガス不感層 70.0±1.2mm x

6 比例計数管QEのモデル 斜入射実験:今回の解析 窓透過率測定(2000年)

7 斜入射法により検出効率を求めた比例計数管を リファレンス検出器としてXISの検出効率を求めた。

8 今回の結果 SiO2厚み 0.396±0.040mm Si厚み 0.229±0.026mm Si3N4厚み 0.000±0.007mm 定数ファクタ 0.883±0.031 C-Kのデータ点モデルの1/3以下 0.277keVの点を除いて一定の相対重みでフィット

9 どうがんばっても一様吸収モデルでC-Kをあわせるのは難しい

10 検討課題 XIS-FMのQE絶対値の精度は比例計数管のQEの精度で決まっている。
ガス不感層の厚みはエネルギーによらないか?厚みはもっともな値か? PENELOPEによるシミュレーションをする予定 メッシュの斜入射透過率のよりよいモデルは?反射は効かないか? 打ち上げ後BI0について斜入射実験ができればベスト。 FI-CCD,BI-CCDともに0.3keV以下のレスポンスに関してはQEモデルの検討必要。

11 バッドコラム その1 (1) 転送不良 Trail Column PH22 PH7 PH0 PH2 PH11 ACTX ACTY V / V / V / V / V / V / V / <PH[7]-PH[2]>で判別可能(e.g. >8AU)

12 バッドコラム その2 (2)上下漏れ出し Column PH22 PH7 PH0 PH2 PH11 ACTX ACTY V / V / V / V / V / V / PH[7]>SplitTH(e.g.20) && PH[2]>SplitTH(e.g.20)のイベントの割合(e.g. >0.2)で判別可能

13 バッドコラムその3 (3) Flickerging Pixel PH22 PH7 PH0 PH2 PH11 ACTX ACTY V / V / V / V / V / V / ピクセル毎のイベントの頻度で判別可能(e.g.>0.1c/frame)

14 xisDL / xisread XIStrailCorrection XIStrailCheck XISareaSelect

15 バッドコラムの数 EU= 21 FI0=14, FI1=12, FI2=17,FI3=24 BI0=23, BI1=50
探すmodule=XIStrailCheck 除外するmodule=XISselectArea

16 A/I 電荷もれ補正したデータで解析しなおす(京大) QE

17 やらなければいけない多くのこと 打ち上げ前の試験@相模原&鹿児島 鹿児島運用準備、相模原運用準備 マイクロコードの準備と管理(試験は?)
相模原と鹿児島のQLソフト バッドコラム、ホットピクセル、CTI、ゲイン管理。そのための体制 応答関数作成 BIの解析法、P-sum の応答、電荷漏れ補正、CTI補正、PIの決定、各応答関数成分の 観測者用FITSファイルのチェック、ソフトのテスト 運用のもろもろ(SAA前後、CTI、ジッターDAC)


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