オブジェクト指向メトリクスを用いた 開発支援に関する研究 --- VC++とMFCを用いた開発を対象として ---

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1 オブジェクト指向メトリクスを用いた 開発支援に関する研究 --- VC++とMFCを用いた開発を対象として ---
大阪大学 大学院基礎工学研究科 情報数理系専攻 ソフトウェア科学分野 井上研究室 神谷年洋 1998/02/19 T. Kamiya, Osaka Univ.

2 研究の背景 ソフトウェアが複雑化・大規模化している 開発期間の短縮と品質の向上が求められている
　開発プロセスの改善に関する研究が活発に行われている CMM ISO9000 SPICE 1998/02/19 T. Kamiya, Osaka Univ.

3 開発者個人の技術向上 プロセス改善のためには、開発者個人の技術向上が必要であると指摘されている*
　プロセス改善のためには、開発者個人の技術向上が必要であると指摘されている* 　開発者の技術向上を支援し実現するための環境が必要である 計測に基づく評価とフィードバックを繰り返すことが効果的である * W. S. Humphrey: A Discipline for Software Engineering, Addison-Wesley(1995). 1998/02/19 T. Kamiya, Osaka Univ.

4 現在の開発支援の問題点 (a)多くの開発ツールが投入されているが、プロダクトの評価機能を持つものは存在しない
(b)多くのメトリクスが提案されているが、開発者個人向けの実用レベルのツールは開発されていない (c)分析結果を開発者に効果的にフィードバックする方法は確立されていない

5 本研究の目的 オブジェクト指向開発を対象としたメトリクスツールの作成 特長 Smart：プロダクトメトリクス計測ツール
　オブジェクト指向開発を対象としたメトリクスツールの作成 Smart：プロダクトメトリクス計測ツール Efer：プロセスメトリクス計測ツール 特長 個人のソフトウェア開発過程において (a)プロセスメトリクス・プロダクトメトリクスを計測 (b)計測対象は開発環境として一般的なVC++ 5.0とMFCを用いたプログラム (c)分析結果を開発者へ視覚的にフィードバック 1998/02/19 T. Kamiya, Osaka Univ.

6 プロダクトメトリクス計測ツールSmart
[主な機能] (1)クラス階層の表示 ライブラリのクラスと新規開発のクラスを区別する ライブラリのクラスについては、開発プログラムから参照される部分に限定して表示可能である (2)メトリクスによる分析 複雑さメトリクスを計測する(RFC, CBO, DIT, NOC, WMC, LCOM, NIV, SLOC) 統計分析により複雑であると判定されたクラスをGUIにより直感的に指摘する メトリクス分析部分を修正することで容易にメトリクスを追加できる

7 プロダクトメトリクス計測ツールSmart
(3)他言語への対応 C++プログラムの構造を抽出する部分が独立していて、他のオブジェクト指向プログラミング言語などへの対応が可能である (4)ソースコードのブラウズ 1998/02/19 T. Kamiya, Osaka Univ.

8 Smartの 構成 1998/02/19 T. Kamiya, Osaka Univ.

9 Smartの表示(1)クラス階層全体 1998/02/19 T. Kamiya, Osaka Univ.

10 Smartの表示(2)クラス階層 1998/02/19 T. Kamiya, Osaka Univ.

11 Smartの表示(3)メトリクスによる分析
1998/02/19 T. Kamiya, Osaka Univ.

12 Smartによるフィードバック情報 1998/02/19 T. Kamiya, Osaka Univ.

13 プロセスメトリクス収集ツールEfer [主な機能] (1)プロセスメトリクスの収集 (2)文書化支援
工数やエラー数といったプロセスメトリクスを半自動的に収集する →今までの手作業による収集よりも信頼性が向上 プロダクト，欠陥，フォールトの依存関係を利用することでデータの一貫性を保証する (2)文書化支援 収集したデータを整理して表示したり，HTML文書にする 1998/02/19 T. Kamiya, Osaka Univ.

14 Eferの収集するデータ 1998/02/19 T. Kamiya, Osaka Univ.

15 Eferの表示(1) ログビュー 作業を時間順に表示する 1998/02/19 T. Kamiya, Osaka Univ.

16 Eferの表示(2) プロダクトビュー プロダクトごとにエラーデータを追跡する 1998/02/19
T. Kamiya, Osaka Univ.

17 Eferの構成 1998/02/19 T. Kamiya, Osaka Univ.

18 Eferの評価 ログビューを見ることで，進捗状況を理解しやすかった 今までの所用時間が記録されているので，作業の見通しが立て易かった
同じようなエラーがあった場合，今まででの記録があるので修正の手助けになった 手作業で記録していたが，ツールを用いることで入力の時間が短縮された 1998/02/19 T. Kamiya, Osaka Univ.

19 まとめ 主な成果 課題 (1)個人開発環境として用いることができるメトリクスツールを作成した Smart, Efer
(2)実用ツールとして企業の研修で利用されている 課題 (1)SmartとEferの連携，メトリクスの充実 (2)メトリクスの有用性を検証し，改善を行う 1998/02/19 T. Kamiya, Osaka Univ.

20 後期課程において希望する研究 (1)開発現場への適用 (2)上流工程への適用 メトリクスツールによるフィードバックの効果を実際の開発で調べる
　メトリクスツールによるフィードバックの効果を実際の開発で調べる (2)上流工程への適用 　実際の開発現場で標準的に利用されている仕様書や設計書を対象とした計測手法の提案 1998/02/19 T. Kamiya, Osaka Univ.

21 開発支援環境の全体像 1998/02/19

22 FPツール 要求仕様書作成ツールREQUARIOで開発された仕様書(ユースケースを視覚化したもの)に対するファンクションポイント計測ツールを試作した FP：ソフトウェアの規模を計測するメトリクスであり、開発工数の予測に用いられる 1998/02/19 T. Kamiya, Osaka Univ.

23 後期課程において希望する研究(2) オブジェクト指向開発手法の提案・改善 オブジェクトの振る舞いに関する分析・設計手法はまだ確立されていない
計算機で分析・設計・実装を効果的に支援可能な開発手法 1998/02/19 T. Kamiya, Osaka Univ.

24 プロトタイプの位置づけ 1998/02/19 T. Kamiya, Osaka Univ.