MHI #22 2nd Vertical Test Summary

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1 MHI #22 2nd Vertical Test Summary
Period : 2012/9/10~9/14 Contents : ▪ Experimental Log ▪ Q0-Eacc 2K&4K ▪ Comparison of every Q0-Eacc curve ▪ Radiation Level (including comparison) ▪ T-mapping Results ▪ cell ▪ X-ray-mapping Results ▪ Status monitor ▪ Electron activity ▪ Summary STF Cavity Group Meeting (2012/9/24) Kirk

2 STF Cavity Group Meeting @2012/9/24
空洞性能の制限(Cell#1の発熱)理由 パスバンドの到達フィールドが揃っていない。 温度マッピングとX線マッピングとの間に相関がみられる。 下方向の放射線量が多い。 爆発後に下方向の放射線量が急増した。 以上の観測事実から#1-#2アイリスか上ビームパイプの 75°と255°のどちらかに何かが有るように予想される。 STF Cavity Group 2

3 Comparison of T-mapping and Optical inspection
予想箇所からは 何も見つからず。 STF Cavity Group 3

4 Comparison of X-ray-mapping and Optical inspection
予想箇所からは 何も見つからず。 STF Cavity Group 4

5 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)
Experimental Log 9/10 (Mon) 10:15 縦測定スタンドへMHI#22号機を移動 11:05 ダクトのリークチェック/ターボＯＮ 空洞直前までのダクトのベーキング 17:00 ベーキング終了(2.38x10-4Pa) 19: x10-5Pa 9/11 (Tue) 9: x10-5Pa/Turbo  I.P.(6.84x10-6Pa) 10:00 空洞直前のバルブ開(2.67x10-6Pa) 10:30 チューナー動作チェック(上限 : 470、下限 : 165、セット : 350) 10:50 排気系と切り離す 10:56 MHI#22空洞をクライオスタットへ移動 13:00 作業終了(6.00x10-7Pa) 9/12 (Wed) 9: x10-7Pa 9:20 トランスファーチューブをデュワーに挿入 9:40 ヘリウムトランスファー開始 パスバンド(TM010)モード周波数、cable correction、TDR測定 16:49 4.2K測定開始 16:55 4.2K測定終了(Eacc, max=8.9MV/m, P0=164W, power limit, No quench, No x-ray) デュワー交換/トランスファーチューブ挿入 9/13 (Thu) 8:40 トランスファー再開 11:40 減圧開始(トランスファーをしながら行う) 13:55 トランスファー終了/デュワー側バルブ閉(2.56Kで液面99.1%で閉) 15:30 2K standard data 15:34 1st πモード測定 (Eacc, max=35.4MV/m, Q0=5.58x109, P0=237W, power limit, heavy radiation) 16:30 3π/9モード測定 (Eacc, end cell=20.1MV/m, power limit, moderate radiation) 16:52 6π/9モード測定 (Eacc, end cell=37.7MV/m, self-pulse, Cell#3 heating, heavy radiation) 17:25 4π/9モード測定 (Eacc, end cell=26.0MV/m, self-pulse, Cell#4 heating, little radiation) 18:14 2nd πモード測定(Eacc, max=35.8MV/m, Q0=5.70x109, P0=237W, power limit, heavy radiation) 19:00 散開 9/14 (Fri) 9:00 Warm-up STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

6 Q0-Eacc Curve for MHI #22 @1.8K & 4.2K
Qt = 1.89 x 1011  1.81 x 1011 35.8MV/m Power limit 35.4MV/m Power limit 2K測定では10MV/m過ぎから放射線が出始めて、プロセスしながら フィールドが上がっていった。しかし、最後の方で爆発が起こり、 結局35MV/mを超えたもののfield emissionがひどくQ0値が低いままで、 終了した。 ILC spec.には到達していないが、クライオモジュールテストでは Dutyが下がるため、それに期待して合格とする。 8.9MV/m Power limit STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

7 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)
１回目に比べて到達フィールドは伸びているが、field emissionの傾向は変わっていない。 この事から、局所研磨でも電解研磨でも除去出来ていないものが依然として空洞内に 存在している事が示唆される。 フィールドが伸びたのはおそらく電解研磨による効果で、局所研磨ではないであろう。 京都カメラの観察で分からないものをどのように処置すればよいかは今後の課題である。 日立が行ったように全てのアイリスを強引に機械研磨にかけてしまう、というのは一つの 方法である。 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

8 Potentially achievable Gradient
元々、１回目の縦測定で 全セルが35MV/m以上に 到達しており、 素性は良い空洞であった。 その後、局所研磨及び25μｍの 電解研磨を実施したが、 セル毎の到達フィールドに 改善は見られない。 この事から、field emissionの 原因となるものが依然として 空洞内に存在していることが 示唆される。 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

9 RF Processing during 1st π @1.8K
STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

10 RF Processing during 1st π @1.8K
STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

11 Radiation Level in π mode measurement @2K
最初のπモード測定では、 10MV/m過ぎから放射線が 出始めたが、徐々にプロセス されていった。 最後の方でクエンチの際に 小規模な爆発が起こり、放射線量が急増した。 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

12 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)
前回の測定時の放射線の振る舞い １回目の縦測定の時も、10MV/m過ぎから放射線が出始めて、プロセスしながら徐々に上がっていった。 この事から、空洞内の状況はさして変わっていないように見える。 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

13 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)
１回目と２回目の放射線量の比較 １回目と２回目とで放射線量にはほとんど変化が見られない。この事から、空洞内には依然として放射線発生の原因となるものが存在しており、局所研磨による効果はあまり無かったものと思われる。 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

14 4 pass-band modes measurement
STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

15 Radiation Level in every pass-band mode @2K
他のモードでも放射線は出ていた。 1st V.T. STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

16 Radiation Level in every pass-band mode @2K
他のモードにおける放射線量にも あまり変化が認められない。 2nd V.T. STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

17 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)
Over-range STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

18 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)
最近の縦測定での放射線量の履歴 Over-range STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

19 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

20 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

21 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

22 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)
残留抵抗値は、１回目と２回目の間で多少改善している。 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

23 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

24 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

25 Summary of Effect of Local Grind at STF
Cavity Change of Gradient [MV/m] Location of problematic defect grind method Limit cause in last V.T. MHI#8 16  27 (1st  2nd) #2 equator (edge) by machine Cell #2 heating (other location) MHI#10 26  20 (2nd  3rd) #1 & #9 equator (on bead) by hand & machine Cell #1 heating (other new defect) MHI#14 13  iris #8-#9 by hand Power limit MHI#15 23  >33 Cell #9 heating (new defect) 29  >36 #9 equator Cell #9 heating due to heavy F.E. 18  (3rd  4th) iris #3-#4 (edge) iris #7-#8 (edge) iris #8-#9 (edge) & MHI#16 21  >34 #1 equator HOM #2 pre-heating (transient state) ※アイリスを研磨した場合の評価は、πモードにおけるフィールドで行っている。 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

26 Summary of Effect of Local Grind at STF
Cavity Change of Gradient [MV/m] Location of problematic defect grind method Limit cause in last V.T. MHI#18 31  10 (1st  2nd) beam pipes (on bead) by machine Cell #1 heating 10  30 (2nd  3rd) iris #2-#3 (edge) Cell #2, 3 heating due to heavy F.E. (new defect) MHI#19 26  37 iris #5-#6 (edge) Cell #4, 5 heating MHI#20 9  29 iris #2-3, 3-4, 5-6, 6-7, 8-9 (edge) #5 equator (on bead) power limit due to heavy F.E. MHI#22 32  36 iris #5-6, 6-7, 8-9 beam pipe (on bead) ※アイリスを研磨した場合の評価は、πモードにおけるフィールドで行っている。 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

27 Summary of Effect of Local Grind at STF
Cavity Change of Gradient [MV/m] Location of problematic defect grind method Limit cause in last V.T. TOS#2 31  >38 (1st  2nd) #7 equator (on bead) by machine Cell #7 heating 38  >39 #8 away from equator (Not on bead) Cell #8 heating HIT#2 >35  >41 Every iris beam pipes by hand with wood rod Power limit with heavy field emission ※アイリスを研磨した場合の評価は、πモードにおけるフィールドで行っている。 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

28 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)
T-mapping result STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

29 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)
今回反応していた抵抗の番号 ※赤色はクエンチ時に反応していたもの ※水色はプロセス時に反応していたもの ※緑色はpre-heatingが観測されたもの 4.2K π Power limit 2K 1st π Power limit, HOM #1 (#21, 22), HOM#2 (#208, 209), Bottom (#32, 33), Probe (#130) 2nd π Power limit, Probe (#130) 8π/9 Not measured 7π/9 6π/9 Cell #3 (#201, 233, 267, 278, 296, 300, 316, 320) 5π/9 4π/9 Cell #1 (#1, 12, 100, 111, 122, 134, 177, 188, 221), Cell #4 (#15, 26, 44, 60, 62, 92, 131, 146, 149, 354, 355, 358, 359, 361, 363) 3π/9 Power limit, Cell #1 (#12, 23, 46, 89) 異常 無し ※#353～#396は重点的に貼り付けられる抵抗(今回はCell #2, #3, #4, #6に付けた) STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

30 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)
前回反応していた抵抗の番号 ※赤色はクエンチ時に反応していたもの ※水色はプロセス時に反応していたもの ※緑色はpre-heatingが観測されたもの 4.2K π Power limit 2K 1st π Cell #1 (#23, #89, #100, #111, #122, #133), HOM #1 (#21, #22), Probe (#130) 2nd π Cell #1 (#23, #89, #100, #111, #122, #133), Probe (#130) 8π/9 Cell #1 (#89, #100, #122, #133) 7π/9 Not measured 6π/9 Cell #1 (#23, #89, #100, #122, #133), Probe (#130) 5π/9 Cell #3 (#145, #179, #190, #212, #232, #233, #385) 4π/9 Cell #6 (#6, #17, #28, #39, #55, #70, #72, #73, #365~#374) 3π/9 Cell #1 (#111, #134, #177, #188, #199, #210, #221, #222, #265, #274, #276, #309), Cell #5 (#93, #104, #115, #126, #151, #152, #153, #155) 異常 無し ※#353～#396は重点的に貼り付けられる抵抗(今回はCell #2, #3, #4, #6に付けた) STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

31 Pre-heating @Probe during every mode
π π 6π/9 4π/9 3π/9 πモード時にpre-heatingが観測された。 HOMの方は最初にプロセスされて終わった。 HOM #1 Bottom Probe STF Cavity Group Meeting (2012/9/24) 31

32 Pre-heating @Probe during 1st π mode
STF Cavity Group Meeting (2012/9/24) 32

33 Pre-heating @Probe during 2nd π mode
STF Cavity Group Meeting (2012/9/24) 33

34 Cell #3 heating during every mode
π π 6π/9 4π/9 3π/9 6π/9モードでCell #3に発熱が見える。 それ以外に反応は無い。 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24) 34

35 Cell #3 heating during 6π/9 mode
STF Cavity Group Meeting (2012/9/24) 35

36 Cell #4 heating during every mode
π π 6π/9 4π/9 3π/9 4π/9モードでCell #4に発熱が見える。 それ以外に反応は無い。 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24) 36

37 Cell #4 heating during 4π/9 mode
STF Cavity Group Meeting (2012/9/24) 37

38 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)
4π/9 mode 6π/9 4π/9 37.8MV/m 41.1MV/m STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

39 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)
mode STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

40 Comparison of T-mapping
1st 2nd 相関有り？ １回目に観測された発熱はいずれも消えている。ただし、Cell #5だけは到達フィールドが低いので不明。 pre-EP : 5μm EP1 : 100μm EP2 : 20μm Degreasing(FM-20) HPR Local grind EP1 (20μm) EP2 : 20μm Degreasing(FM-20) HPR STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

41 T-mappingの結果 1st π 2nd π 8π/9 7π/9 6π/9 5π/9 4π/9 3π/9
power limit 2nd π 8π/9 測定せず 7π/9 6π/9 Cell #3 heating 5π/9 4π/9 Cell #4 heating 3π/9 End flanges & probe/Pt cables & HOM couplers Probe 4π/9と6π/9はself-pulseで終了している。 πモード時にprobeにpre-heatingが見られた。

42 STFにおける縦測定で観測されたPre-heatingのまとめ
Cavity # of V.T. Date Max. cell for π mode [MV/m] Radiation level [μSv/h] Situation MHI#6 5th 2009/6/4 Bottom, Probe 22140 上下端板とProbeにpre-heatingが観測された。Cellには一切観測されなかった。5π/9測定後、入力ケーブルの不具合により実験中断。 6th 2009/9/16 Probe 99990 上端板とProbeにpre-heatingが観測された。Cellには何も反応が無かった。 MHI#7 1st 2009/6/25 Bottom 4250 上下端板にpre-heatingが観測された。ProbeやCellには何も観測されなかった。 MHI#9 2009/9/3 Bottom, Probe 上下端板とProbeにpre-heatingが観測された。Cellには一切観測されなかった。 2nd 2009/10/15 Probeのみにpre-heatingが観測された。Cellには一切観測されなかった。 3rd 2009/12/16 #2 Cell #8, #9に跨るようにしてpre-heatingが観測された。同時にTop flangeとProbeにも観測された。 MHI#16 2011/5/19 #1 3250 ほぼ全セルにpre-heatingが観測された。同時にHOM#2, Probe, Bottom flangeにも観測された。 MHI#15 2011/12/21 #9 １回目のpower riseで33.5MV/m以上に到達した後、爆発し、フィールドが劣化した後から、上方向の放射線量が急増した。と同時に上端板とプローブにpre-heatingが観測されるようになった。Cellにpre-heatingは見られなかった。 2012/1/19 38460 HOM#2 weld, Probe, Pt, Cell #5, #7に観測された。 １回目よりは少なかったが、同じ所が発熱しており、何か共通の原因がありそうである。 ※MHI#15号機の４回目の縦測定では全く観測されなかった。

43 STFにおける縦測定で観測されたPre-heatingのまとめ
Cavity # of V.T. Date Max. cell for π mode [MV/m] Radiation level [μSv/h] Situation MHI#20 1st 2012/3/15 Bottom, HOM#2 99990 ProbeとHOM#2と下端板にpre-heatingが観測された。Cellには一切観測されなかった。4π/9測定中、入力ケーブルの不具合により実験中断。 2nd 2012/9/6 #2, Probe 9830 Cell #2とProbeにpre-heatingが観測された。 クエンチ時の発熱はCell #2のpre-heatingの場所で発生した。 MHI#22 2012/5/10 4860 Probeにpre-heatingが観測された。 Cellには一切観測されなかった。 2012/9/13 88800 HIT#2 2012/4/26 Bottom Probeと下端板にpre-heatingが観測された。 ※HIT#2号機の２回目の縦測定では全く観測されなかった。 ※MHI#20および22号機では連続して発生していることから、 局所研磨で除去した部分以外の箇所に依然として問題が起こっている事が示唆される。 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

44 STFにおける縦測定で観測されたPre-heatingのまとめ
Cavity # of V.T. Date Top flange Bottom flange Probe Pt HOM#1 HOM#2 Cell MHI#6 5th 2009/6/4 ○ 6th 2009/9/16 MHI#7 1st 2009/6/25 2nd 2009/10/15 MHI#9 2009/9/3 3rd 2009/12/16 MHI#15 2011/12/21 MHI#16 2011/5/19 2012/1/19 MHI#20 2012/3/15 2012/9/6 MHI#22 2012/5/10 2012/9/13 HIT#2 2012/4/26 Probeにはほぼ毎回観測されるようである。 HOM#1には観測されることは少ないようである。

45 Eacc (on axis) per Cell >39.3 unit : [MV/m] cell π 8π/9 7π/9 6π/9
5π/9 4π/9 3π/9 Eacc, max 1 & 9 35.8 >37.8 28.3 >20.1 2 & 8 0.0 37.1 >40.2 3 & 7 37.8 16.2 4 & 6 41.1 5 終わり方 power limit not meas. self-pulse limiting cause Cell #3 heating Cell #4 heating excitation of other pass-band >39.3 Cell #4の発熱は、(F.E.ではない)通常のクエンチ時に観測される発熱であると 考えられる。おそらくこの場所を観察しても何も見つからないであろう。 一方、Cell #3の発熱はX線マッピングと相関があるようにも見えるので、 このライン上か、反対側のライン上に何かがある可能性がある。 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

46 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)
X-ray-mapping result STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

47 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)
X線の振る舞い (上下の軸上の比較)① １回目のパワーライズの途中で 何度かクエンチが起こり、良い方向へ プロセスされていったが、最後に 小規模な爆発が起こり、性能がやや劣化した。 黒と赤が上方向 緑と青が下方向 1st π 1st π 2nd π 2nd π 6π/9 π π 4π/9 3π/9 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

48 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)
X線の振る舞い (上下の軸上の比較)② 1st power mode 2nd power mode πモードの最後の方で爆発が起こり、 上下方向の放射線量が激増した。 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

49 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)
X線の振る舞い (上下の軸上の比較)③ 2nd power mode Top π Bottom π STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

50 Radiation level [μSv/h]
上下方向の放射線量のまとめ① cavity # of V.T. Gradient [MV/m] Radiation level [μSv/h] P.D. (Top) [V] P.D. (Bottom) larger direction MHI#5 1st 27.3 >999 >>10 >10 top 2nd 19.7 134 5 1 3rd 27.1 303 – MHI#6 25.7 8 4th 19.6 6th 27.7 >99900 13 MHI#7 16.5 4120 4 10 bottom 33.6 >14 MHI#8 16.0 256 0.5 26.8 1410 17.5 37.8 3 MHI#9 25.0 15.9 1360 27.0 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

51 Radiation level [μSv/h]
上下方向の放射線量のまとめ② cavity # of V.T. Gradient [MV/m] Radiation level [μSv/h] P.D. (Top) [V] P.D. (Bottom) larger direction MHI#10 1st 23.8 68.5 – 2nd 25.7 1270 0.1 0.7 bottom 3rd 19.5 5460 0.5 top (?) MHI#11 5.6 5820 1.0 top 28.0 5110 >14 18.1 >99900 2.5 MHI#12 37.5 ~14 40.7 3960 0.2 1.6 MHI#13 36.2 790 32.2 6 ※MHI#10号機の３回目の測定結果は”？”であるが参考として載せた。 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

52 Radiation level [μSv/h]
上下方向の放射線量のまとめ③ cavity # of V.T. Gradient [MV/m] Radiation level [μSv/h] P.D. (Top) [V] P.D. (Bottom) larger direction MHI#14 1st 15.0 >99900 >14 0. top 2nd 13.0 36870 3rd 36.6 0.0 – MHI#15 22.5 800 0.5 3.0 bottom 28.3 18.1 4th 35.7 600 5.5 MHI#16 20.8 3250 1.5 33.8 12 MHI#17 38.4 999 13 MHI#18 31.0 9.7 2140 2.0 11.0 ※赤字は30MV/m近辺で放射線が全く観測されなかった縦測定を示している。 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

53 Radiation level [μSv/h]
上下方向の放射線量のまとめ④ cavity # of V.T. Gradient [MV/m] Radiation level [μSv/h] P.D. (Top) [V] P.D. (Bottom) larger direction MHI#19 1st 26.3 35.0 0.0 – 2nd 37.2 1.4 MHI#20 9.0 6280 13 >14 bottom 28.5 9830 7 MHI#21 38.9 2400 2 5 MHI#22 31.5 4860 2.5 11.5 35.8 88800 top ※MHI#22号機の上下方向の放射線に関しては強度が逆転している。 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

54 X-ray-mapping result ①
2nd π STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

55 X-ray-mapping result ②
2nd π STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

56 X-ray-mapping result ③
1st π 2nd π STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

57 X-ray-mapping result ④
6π/9 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

58 X-ray-mapping result ⑤
6π/9 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

59 X-ray-mapping result ⑥
π 6π/9 互いに対面の位置にある。 #1-2 irisに依然として問題があるように見える。 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

60 X-ray-mapping result ⑦
3π/9 4π/9 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

61 Comparison of X-ray-mapping
1st 2nd STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

62 Correlation between T-mapping and X-ray-mapping
STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

63 Correlation T- & X-ray-mapping @6π/9 mode
37.8MV/m 相関有り？ STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

64 Correlation T- & X-ray-mapping @4π/9 mode
41.1MV/m 相関無し STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

65 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)
Status monitor STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

66 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)
その他のモニターデータ① 6π/9 π π 4π/9 3π/9 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

67 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)
その他のモニターデータ② 10-8Pa台 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

68 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)
その他のモニターデータ③ STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

69 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)
Electron activity STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

70 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)
空洞性能に関する論評 １回目と２回目の放射線量に変化が見られない。 いずれの測定においても、最初のpower riseで放射線の出現状況がよく似ている。 ２回の縦測定のπモードでprobeにpre-heatingが観測された。 温度マッピングとX線マッピングとの間に相関があるように見える（6π/9において）。 １回目の縦測定で観測されたCell #1の発熱箇所と、今回の測定で観測されたCell #3の発熱箇所には相関があるようにも見える。 以上の観測事実から、１回目の縦測定と同じ場所(#1-2 iris)に 依然としてF.E.のソースが存在しているものと考えられる。 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)

71 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)
Summary MHI#22空洞の2回目の縦測定を行い、35.8MV/mに到達した。 field emissionの影響が大きかったためQ0 が低く、ILC spec.に到達しなかったが、ジャケット溶接に進むことにする。 πモードの最後はpower limitであった。 セル毎の到達フィールドは前回から変化が無く35MV/m以上であった。 放射線量は非常に多かった。 1st power riseでは10MV/m過ぎから出始めており、途中でプロセスの効果も見られたが、最後に小規模な爆発が発生し、性能劣化が起こった。 局所研磨の効果はあまり無かったようである。 温度マッピングにより、Cell #3, #4に発熱が観測された。 X線マッピングにより前回と同じ場所に依然として放射線が多いことが判明した。 様々な観測事実から#1-#2アイリスか上ビームパイプの75°か255°のどちらかにemission sourceが以前として存在している事が示唆される。 STF Cavity Group Meeting (2012/9/24)