5 テスト技術 5.1 テストとは LISのテスト 故障診断 fault diagnosis 故障解析 fault analysis

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あらまし アンサンブル学習の大きな特徴として,多数決などで生徒を組み合わせることにより,単一の生徒では表現できない入出力関係を実現できることがあげられる.その意味で,教師が生徒のモデル空間内にない場合のアンサンブル学習の解析は非常に興味深い.そこで本研究では,教師がコミティマシンであり生徒が単純パーセプトロンである場合のアンサンブル学習を統計力学的なオンライン学習の枠組みで議論する.メトロポリス法により汎化誤差を計算した結果,ヘブ学習ではすべての生徒は教師中間層の中央に漸近すること,パーセプトロン学習では
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  第3章 論理回路  コンピュータでは,データを2進数の0と1で表現している.この2つの値,すなわち,2値で扱われるデータを論理データという.論理データの計算・判断・記憶は論理回路により実現される.  コンピュータのハードウェアは,基本的に論理回路で作られている。              論理積回路.
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教師がコミティマシンの場合のアンサンブル学習 三好 誠司(神戸高専) 原 一之(都立高専) 岡田 真人(東大,理研,さきがけ)
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5 テスト技術 5.1 テストとは LISのテスト 故障診断 fault diagnosis 故障解析 fault analysis 製造不良の判別 故障診断 fault diagnosis 故障箇所の特定 故障解析 fault analysis 故障の物理的要因の究明

5.1.1 論理回路のテストの基本 5.1.2 テスト品質とテストコスト テストパターン テストで用いる入力のこと テスト品質 例.故障のカバー率 テストコスト テスト時間,テスト装置,テスト用の回路,テストパターン生成時間... 1 回路 正常時:1 故障時:0 故障発見!

5.2 故障モデル 全数テスト 現実的でないことが多い 故障モデル fault model 想定される故障を検出するようテストパターンを生成

5.2.1 故障モデルの考え方 VDD 欠陥 defect 故障 fault 1 誤り error 1 正常時:1 故障時:0 1

5.2.1 故障モデルの考え方 良い故障モデルの条件 故障モデルの分類 実際によく生じる欠陥の振る舞いを表現 生成したテストパターンが他のモデルの故障も検出 計算機での扱いが簡単 故障モデルの分類 論理故障と非論理故障 単一故障と多重故障

5.2.2 縮退故障 stuck-at fault 最も広く用いられている故障モデル 0縮退故障 1縮退故障 GND VDD 1

5.3 テストパターン生成 5.3.1 テストパターンと故障検出率 前提 組み合わせ回路 f(X) 論理故障 a 故障差関数 F(X) = f(X)  fa(X) テストパターン F(X)=1となるX x1 x2 VDD 故障関数 1 x1 x2

等価故障 equivalent fault 故障関数が同じ故障 GND GND

考慮すべき故障の数とテストパターン数 N: 信号線数 n: 入力ビット数 故障の数 テストパターン数 全縮退故障 2N ≤ 2N 等価故障から代表故障を選択 0.8N~1.2N ≤ 0.8N~1.2N 全数テスト 2n

テスト不能故障,冗長故障 テストできない故障 組み合わせ回路の場合,冗長故障 x1 x1 a/1 x2 x2 x1 x2 その部分の回路は冗長なため x1 x1 a/1 x2 x2 x1x2 0 0 0 1 1 0 1 1 1 x1 x2

故障研修率,故障検出効率 故障検出率 (%) 故障検出効率(%) 検出する故障数 総仮定故障数 ×100 検出する故障数 総仮定故障数-テスト不能故障数 ×100

自動テストパターン生成 ATPG 生成におけるポイント 基本技術 生成時間が短い 故障検出率が高い テストパターン数が少ない 5.3.2 故障シミュレーション パターンから検出できる故障を求める 5.3.3 テスト生成 故障から,検出できるパターンを求める

テスト生成の流れ ランダムテストパターンの生成と故障シミュレーション 未処理の故障が無ければ終了.あれば3へ. ある未検出故障に対するテストパターンを生成. パターンが生成できなければ2へ.できれば5へ. 生成されたパターンに対し故障シミュレーション.2へ.

5.3.2 故障シミュレーション 与えられたテストパターンが検出できる故障を求める 故障n個のとき,n+1個の回路をシミュレート a/1 1 1 a/1 a/0 1 1 1 a/0 a/0

5.3.3 アルゴリズムによるテスト生成 与えられた故障を検出するテストパターンを求める 2分決定グラフ(BDD)による故障差関数 充足可能性問題(SAT) 経路活性法 (path sensitization method) 回路の形状を基に,信号伝搬経路を見てゆく Dアルゴリズム,PODEM, FAN, SOCRATES

5値論理 真理値表 AND 正常回路 故障回路 1 D X 未割当 1 D X 出力がDかDになるように,入力値を定める

図5.10 故障の顕在化 (0縮退故障を仮定) 図5.12 含意操作 (決定できる値を設定) 1 D 図5.11 正当化操作 (入力側に値を設定) 1 D 図5.13 故障の伝搬操作 1 D

出力がDかDになるように,入力値を定める 1 1 1 D D D D D 1 D 1 テストパターン: (a, b, c, d) = (0, 0, x, 0)

5.3.5 順序回路のテスト 極めて困難 時間展開モデル

5.4 スキャン設計 テスト容易化設計(DFT, Design for Testability)の一種 フリップフロップの値を外部から制御・観測できるように回路を設計

5.5 組込み自己テスト BIST (built-in self test) テストパターン発生,出力系列の解析などを内蔵回路によって行う手法 5.3.2 テスト発生回路 LFSRがよく用いられる

5.5 組込み自己テスト BIST (built-in self test) 応答解析回路 シグネチャ(signature)を出力 出力系列を圧縮したもの 見逃し(aliasing)の可能性 エラーが含まれている出力系列のシグネチャが,正常な場合と一致してしまうこと 確率は少ない MISR