ALMA Band 4 受信機 進捗状況 国立天文台先端技術センター 伊藤哲也 2010/3/5 ALMA Band 4 status
ALMA Front End 10 band分のカートリッジをひとつの デュワに収める
ALMA Band 4 Cartridge design 125 – 163 GHz Two linear polarizations Sideband-Separating SIS Mixer IF 4-8GHz Warm Optics Horn OMT 2SB mixer unit 527mm Isolator HEMT Amp IF Output LO system φ140mm Band 4 Cartridge SN-01
ALMA Band 4 status Critical Design Review : 2009 June SN01 was delivered. Testing SN02 and SN03 CDR Action Items Speed up plan of production rate 4 4
CDR Action Items B4-A/I-03 Cross talk B4-A/I-03 Stabilization time B4-A/I-03 vibration test B4-A/I-05 warm optics noise B4-A/I-14 Grounding scheme B4-A/I-11 Environmental Temp. during tests B4-A/I-40 Chamfer horn etc.
CDR AIの例： 雑音測定への常温光学系追加 常温光学系： デュワー外にあるBand4 ビームを副鏡に結合するための光学系
雑音測定での常温光学系追加
量産作業とは 4作業があり、それぞれを独立して進行可能 総合試験が律速段階となるように計画 部品準備 (約100種) 調達手続 受入検査 (書類作成を含む) 受入試験 (機械試験・DC試験・RF試験・校正) 部分組立・サブアセンブリ試験 カートリッジ組立 総合試験 (律速作業) 出荷作業 (書類・税関・梱包) 2007-03-13 8 8
総合試験 雑音測定系 ビーク測定系 現在は1つのカートリッジを2つの測定系 （デュワ）に入れ替えて測定 雑音測定系 ビーム測定系 9 9
理想的な測定時間の見積 Band 4 preparation task sum hour freq. Pol days Noise 2 0.3 10.3 Parameter 1 7 2.5 Noise/IF power 1.3 Image rejection ratio 2.7 Gain compression 5 1.8 Amplitude stability 3 1.7 Beam 1.0 8.5 Co-polar pattern 2.2 Cross polar pattern polarization alignment 0.5 1.2 phase stability cross talk SUM 18.8 10 10
測定装置の二重化 ビーム測定系に雑音測定を追加
測定装置の二重化 雑音測定系にビーム測定を追加 デュワ上のX, Y, θステージにRF源を設置 (band8を参考に） 1度の冷却ですべての測定が可能 ２つの測定系が独立・平行して測定可能 →測定のスピードアップ