ATLAS前後方ミューオントリガーシステム開発1 CERNでのTGCセクターアセンブリ 東大素セ， KEKA，神戸大自然B，阪大理C，信州大理D，都立大理E　 野本裕史，坂本宏，石野雅也，桑原隆志，佐々木修A ，安 芳次A, 池野正弘A ，香川晋二A ，緒方岳B，蔵重久弥B，菅谷頼仁C，長谷川庸司D，福永力E， 他ATLAS日本TGCエレキグループ

内容 LHC-ATLAS実験 前後方ミューオントリガーシステム(TGC)のエレクトロニクス CERNにおける1/12セクターの組み立て 目的 セットアップ 結果 まとめ

LHC-ATLAS実験 22m 7TeV プロトン 7TeV プロトン 44m 2007年にCERN-LHCで実験スタート予定の陽子陽子衝突実験 LHC--25ns毎(40MHz)の高い頻度で陽子陽子衝突 ATLAS総チャンネル数14億ch.(1.5MByte/event) → 40MHz*1.5MB=60TB/s 莫大なデータ量でHiggsやSUSYの探索 データは3段階のトリガーを掛けて、記録可能な量(300MB/s)まで 落として保存し、解析を行う

前後方ミューオントリガーチェンバー (TGC, Thin Gap Chamber) M2 M3 M1 1/12セクター ATLASの前後方(1.05<|η|<2.4)を覆うワイヤーチェンバー - ワイヤ間隔が狭い(1.8mm)のでミューオンのドリフト時間が短く時間分解能　がよい → 25nsでのバンチ識別を可能にしている (トリガーチェンバー)。 3層(M1,M2,M3)の構成 　→M3+M1,2のミューオンヒット情報からHigh-Ptのミューオンを見つけて 　　　レベル1トリガー情報を生成 M2 M3 M1 1/12セクター

TGCエレクトロニクスのレイアウト Chamber Output Signal Amplifier Shaper Discriminator Service Patch Panel Timing Trigger and Control distribution JTAG Route Controller Patch Panel High-Pt board Slave Board Star Switch PP SLB Board HPT SSW Controller Crate Control Interface Read Out Driver Central Trigger Processor Muon CTP Interface Sector Logic

Readout flow: TGC  ASD  PS Board  SSW ( electronics hut) 1/12セクター(M1層)のセットアップ TGC (Thin Gap Chamber) HSC ASD SSW PS Board (PP, SLB, JRC) elec hut Readout flow: TGC  ASD  PS Board  SSW ( electronics hut)

1/12セクターでのテストの目的 ATLASの実験ホール(地下100m)にTGCを下ろした後で　はアクセスが困難になる。 実験ホールに移動する前に ケーブル、コネクターの不良 ケーブル、コネクターの接続ミス エレクトロニクスの動作不良 　を見つけ、修正して、セクターが正常に動作することを　　確認しておく必要がある。

ASDからのテストパルス信号を取って動作を確認する テスト方法 ASDからのテストパルス信号を取って動作を確認する On TGC chamber L1A, テストパルストリガー, リセット Electronics hut TTCvi/vx TGC side crate PC 信号に対するdelayやマスクの設定 テストコントロール パネル ヒストグラム

ASD and signal cable check with ASD TP runs 結果その１ ASD and signal cable check with ASD TP runs (シグナルケーブルの長さに合わせてdelay パラメータを設定したあと) Number of events with a hit ASDボードのDead channel and/or シグナルケーブルの断線が確認可能 このヒストグラムではASDボードでの1channelのショートが確認されている ASD channel ID number

Delay scan in ASD TP runs 結果その２ Delay scan in ASD TP runs シグナルケーブルの長さか 各ASDに対するdelayパラメ ータの大まかな値が計算 できる 1つのASDボードの全16チャ ンネルは同じdelayの値で 信号が確認できる 各ASDに対してより詳細 なdelayのtuneも可能 current bunch previous bunch next bunch

まとめ 2月から現在までM1の片面12セクター中、4セクターをテスト。 　そのうち2セクターがテスト終了。 テストでつまずくポイントは ケーブルの接続ミス(コネクターへの刺しが甘い) RODモジュールの不調 が9割以上 RODの不調についてはPt5モジュール(この次の発表)で解決される ケーブル接続などの単純なミスの対処法はwikiに情報を集めて知識を共有 今後のテストのスピードアップが期待できる

今後の予定 現在2箇所で平行してセクターテストを行っているが、 今後もう1箇所増設する→スピードアップ 4月中にM1層12セクターの検査が終了 10月までに片面3層とも終わり、来年4月に両面完了。