STF Cavity Group Meeting (2012/6/25) HIT#2 2nd EP1後の内面検査 Period : 2012/6/20 ~ 6/21 Process : Optical Inspection Workers : Kirk (KEK), M. Asano (Nihon Advanced Technology), T. Watanuki (HITACHI Co., LTD.) STF Cavity Group Meeting (2012/6/25) Kirk

Process log of Optical-inspection 6/20 9:38 optical inspection starts (HITACHI Watanuki) inspect equator of from cell #1 to cell #9 14:14 inspect beam pipes and every iris region 17:30 fin. 6/21 9:15 optical inspection starts (NAT Asano) 11:52 inspect beam pipes and every iris region STF Cavity Group Meeting (2012/6/25)

BP top, θ=106° 6-7 iris, θ=267° 空洞名 内面検査前の空洞の状態 検査日 測定者 HIT#02 EP1 後の検査 2012/6/20 綿貫、浅野　 BP top, θ=106° 6-7 iris, θ=267°

360 180 90 270 Bp. #1 #1-#2i #2 #2-#3i #3 #3-#4i #4 #4-#5i #5 #5-#6i 360 180 90 270 #1 #2 #3 #4 #5 #6 #7 #9 #8 #1-#2i #2-#3i #3-#4i #4-#5i #5-#6i #6-#7i #7-#8i #8-#9i Bp. 欠陥 ビードから距離のある欠陥 しみ スジ状の痕

STF Cavity Group Meeting (2012/6/25) 赤道部の様子 1-cell equator, θ =0 deg. 3-cell equator, θ =0 deg. 5-cell equator, θ =0 deg. 9-cell equator, θ =0 deg. STF Cavity Group Meeting (2012/6/25)

STF Cavity Group Meeting (2012/6/25) アイリス部の様子 1-2 iris, θ =0 deg. 4-5 iris, θ =0 deg. 6-7 iris, θ =0 deg. 8-9 iris, θ =0 deg. STF Cavity Group Meeting (2012/6/25)

STF Cavity Group Meeting (2012/6/25) ビームパイプの様子 BP top flange, θ =0 deg. BP top cell, θ =0 deg. BP bottom flange, θ =0 deg. BP bottom cell, θ =0 deg. STF Cavity Group Meeting (2012/6/25)

STF Cavity Group Meeting (2012/6/25) しみの様子 しみは、見られなかった。 STF Cavity Group Meeting (2012/6/25)

ビードから離れた大きめのdefect例 3 cell eq. up, θ =97 deg. #2 下流　163 #3 上流　97, 105, 254 #4 上流　55, 148, 346 #5 上流　50 STF Cavity Group Meeting (2012/6/25)

STF Cavity Group Meeting (2012/6/25) アイリスの研磨箇所の経過例 ① 3-4 iris, θ =205 deg. EP 1 後 1st VT 後 研磨＋EP 1 後（消失） 6-7 iris, θ =334 deg. EP 1 後 1st VT 後 研磨＋EP 1 後（消失） STF Cavity Group Meeting (2012/6/25)

STF Cavity Group Meeting (2012/6/25) アイリスの研磨箇所の経過例 ② 3-4 iris, θ =153 deg. EP 1 後 1st VT 後 研磨＋EP 1 後（消失） 5-6 iris, θ =216 deg. EP 1 後 1st VT 後 研磨＋EP 1 後（消失） STF Cavity Group Meeting (2012/6/25)

STF Cavity Group Meeting (2012/6/25) アイリスの研磨箇所の経過例 ③ 2-3 iris, θ =25 deg. EP 1 後 1st VT 後 研磨＋EP 1 後（消失） 5-6 iris, θ =281 deg. EP 1 後 1st VT 後 研磨＋EP 1 後（消失） STF Cavity Group Meeting (2012/6/25)

STF Cavity Group Meeting (2012/6/25) アイリスの研磨箇所の状態 ① 1-2 iris, θ =116 deg. 1st VT 後 研磨＋EP 1 後（出現） 4-5 iris, θ =46 deg. 1st VT 後 研磨＋EP 1 後（出現） STF Cavity Group Meeting (2012/6/25)

STF Cavity Group Meeting (2012/6/25) アイリスの研磨箇所の状態 ② 6-7 iris, θ =267 deg. 1st VT 後 研磨＋EP 1 後（出現） アイリス　 スジ状の痕の位置 1-2 46-54, 81-90, 125, 231, 297-314, 332-351 2-3 44, 268 3-4 27-52, 79-140 4-5 0-359 5-6 9-35 6-7 0-358 7-8 212 8-9 無し アイリス全周のくぼみ？は、 研磨の結果、全て消失したが、 細かなスジ状の痕が出現した。 STF Cavity Group Meeting (2012/6/25)

STF Cavity Group Meeting (2012/6/25) ビームパイプの研磨箇所の経過例 BP top cell, θ =79 deg. EP 1 後 1st VT 後 研磨＋EP 1 後 BP bottom flange, θ =114 deg. EP 1 後 1st VT 後 研磨＋EP 1 後 STF Cavity Group Meeting (2012/6/25)

STF Cavity Group Meeting (2012/6/25) BP top 106°のdefect経過 ① フランジ面から約0mm 1st VT 後 研磨＋EP 1 後 フランジ面から約5mm 1st VT 後 研磨＋EP 1 後 STF Cavity Group Meeting (2012/6/25)

STF Cavity Group Meeting (2012/6/25) BP top 106°のdefect経過 ② フランジ面から約14mm 1st VT 後 研磨＋EP 1 後 フランジ面から約45mm 1st VT 後 研磨＋EP 1 後（消失） STF Cavity Group Meeting (2012/6/25)

STF Cavity Group Meeting (2012/6/25) BP top 106°のdefect経過 ③ フランジ面から約70mm 1st VT 後 研磨＋EP 1 後（消失） フランジ面から約80mm 1st VT 後 研磨＋EP 1 後 STF Cavity Group Meeting (2012/6/25)

STF Cavity Group Meeting (2012/6/25) Summary HIT#2号機の２回目のEP1後の内面検査を行った。 その結果、上ビームパイプの１０６°の角度の所に 　　直線状にあったdefect群が完全には除去されていないことが 　　判明した。 アイリスの細かい傷は取り除かれたが、さらに細かい筋状の痕が 　　新たに出現した。 ビームパイプ部の defect については再度研磨するかどうか検討中。 STF Cavity Group Meeting (2012/6/25)