Download presentation
Presentation is loading. Please wait.
Published byΜακάριος Αλεβιζόπουλος Modified 約 5 年前
1
G Knebel et al J. Phys,: Condens. Matter 16 (2004) 8905-8922
High-Pressure Phase Diagrams of CeRhIn5 and CeCoIn5 studied by AC Calorimetry G Knebel et al J. Phys,: Condens. Matter 16 (2004)
2
研究内容 目的 AC Calorimetry と AC Susceptibility による測定 結果は主に CeRhIn5 についてのもの
AFM - SC 共存域での SC の出現 転移線の性質 (First or Second order) AFM 転移 (SC 転移) の Broadening について
3
CeRhIn5 CeCoIn5 について CeIn3 と TIn2 の層が c 軸方向に CeRhIn5 CeCoIn5
CeTIn5 CeRhIn5 TN = 3.8 K SC は 1-8 GPa Max TC ≈ 2.2 K ( P ≈ 2.5 GPa ) AFM ヘリカル構造 ○Ce CeCoIn5 TC = 2.3 K CeIn3 と TIn2 の層が c 軸方向に 交互に重なった構造
4
実験方法 AC Calorimetry AC Susceptometer Demuer J. Low Temp. Phys
5
CeRhIn5 の実験結果 1 TN は、P ≈ 0.6 GPa で最大 P = 1.85 GPa で、SC 転移による異常
( Max TC ≈ 2.2 K ) TN : 最大値をとる温度 TC : 転移の Onset
6
CeRhIn5 の実験結果 2 1.5 GPa から SC 異常 ΔTC = 200 mK ( P = 1.5 GPa )
P = 2.55 GPa ( TC = 2.2 K )での 転移幅は CeCoIn5 とコンパラ ΔTC = 200 mK TC C TC ρ > TC χ > TC C は 不均質物質特有のもの
7
CeRhIn5 の Phase Diagram PC TN は PC で確かな値を持つが、 連続的に 0 へ抑圧されていない
NQR と 比熱測定 P > PC で No AFM order ( 基底状態は純粋な超伝導状態 ) PC TN は PC で確かな値を持つが、 連続的に 0 へ抑圧されていない → QCP の消失 ● ○ : Specific heat C △ : Susceptibility χ : Resistivity ( Llobet ) ρ 斜線 : Pure state Dotted Line : AFM と SC Bulk Phase との一次転移線 PC : AFM 転移線 TN (p) が SC 転移線 TC (p) と交わる点の圧力
8
AFM と SC の共存 P < PC の TC ρ 、 TC χ は バルク転移を反映していない 新たな転移線を期待
バルク転移を反映していない 新たな転移線を期待 PS- PC direct AFM → SC transition AFM と SC は一次相転移 PS-:SC が観測された最低の圧力 AFM PS- SC PS- : SC が観測された最低の圧力 Llobet Phys. Rev. B
9
Transition Broadening
幾つかの要因 ゆらぎからくる本質的なもの 物質の不均一さ、内部 (外部)応力、 圧力勾配 ΔTN 圧力の不均一が原因? ルビースペクトルに異常なし 圧力勾配のみによるものなら GPa のオーダーの圧力差が必要 → 今回のセルでは 0.04 GPa 以下 ⇒ 圧力差のせいではない
10
First or Second ? 一次相転移は?? 二次相転移?? 二次相転移は 形がはっきりしている 異常の大きさだけが変わる
∂T /∂P = ΔV /ΔS (Clapeyron の式) |∂T /∂P | ( T →0 ) の急な傾き ⇒ ΔS → 0 ( Nernst Principle ) ΔS は比熱異常に一致 比熱異常の劇的な消滅 ( PC → 0 ) ⇒ 理屈が通る! 二次相転移?? 二次相転移は 形がはっきりしている 異常の大きさだけが変わる ⇒ CeRhIn5 には当てはまらない
11
Calculation へ向けて 転移幅が∂T /∂P の強さと関係 していることを期待 不均質の主な原因は、物質自身の
していることを期待 不均質の主な原因は、物質自身の 内部圧力や歪みの勾配 欠陥 (Dislocations, Stacking faults) の近くでは内部歪み ( ∼ 0.1 Gpa ) サンプル内に幅ΔP という圧力 分布を仮定して計算した
12
Calculation (AFM transition)
ΔP = GPa 仮定 比熱異常の形状は変わらない 0.65 GPa を理想のカーブ (∂TN /∂P ≈ 0) サンプル内ではガウス分布 結果 ∂TN /∂P が険しく転移幅が広がっていた 範囲がはっきり見えた → 定性的には測定とあっている
13
Calculation (SC transition)
ΔP = GPa 仮定 C/T(P) = A(T/TC)α (SC) これをコントロールするのは二つのパラメータ TC (P) , P0 での比熱異常の大きさ(α) ガウス分布 結果 転移幅の広がりを同じ圧力固定のガウス分布 で理解できる TN と TC の圧力依存性の結果として、 ガウシアン圧力分布は観測された 転移幅の広がりを説明できる
14
CeCoIn5 常圧の CeCoIn5 は QCP の近くに 位置している
位置している Sidorov Phys. Rev.Lett
15
CeRhIn5 よりも圧力不均一の影響が重要
Calculation (CeCoIn5) CeRhIn5 と同様に計算 ΔP = GPa ( 0 GPa ) から ΔP = 0.15 GPa ( 2.9 GPa ) まで線形に増加 生の圧力勾配によるものではない ∂TC /∂σa> 0 , ∂TC /∂σc< 0 → 内部応力の存在を示す ⇒ ΔPの線形増加の源 CeCoIn5 は異方性が大きいので、 CeRhIn5 よりも圧力不均一の影響が重要
16
結論 CeRhIn5では、 PC 以下の AFM order から、P > 2 GPa の SC 基底状態への一次相転移が見られた
PC 以下では、SC 比熱異常は全く観測されなかった → ×AFM + SC ? PC 以上の非常にシャープな SC 比熱異常は、均一な バルク SC によるものである
Similar presentations
© 2024 slidesplayer.net Inc.
All rights reserved.